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半導體特性分析儀_4200-SCS型半導體特性分析系統

容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，Windows操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。其它一些特征使得應力測量功能能夠滿足各種可靠性測試的需求。

* 直觀的、點擊式Windows操作環境

4200-SCS型半導體特性分析儀4200-SCS型半導體特性分析儀

* 獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至 0.1fA

* 用于高級半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能

* 集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡

* 內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲

* 獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能

* 內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規

4200-SCS型半導體特性分析儀4200-SCS型半導體特性分析儀

范的樣品測試

* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈沖發生器等多種外圍設備

* 硬件由 Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充

* 包括驅動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺

* 支持先進的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

我們公司代理銷售中電科思儀/Ceyear、恩智/NGI、橫河/YOKOGAWA、是德科技/Keysight、華儀/ECC、泰克/Tektronix、吉時利/Keithley、普源精電/RIGOL、羅森伯格、固緯電子/gwinstek、羅德與施瓦茨、阿美特克、臺灣致茂、福祿克、高美測儀、艾德克斯、MCC、費思泰克、同惠電子、法國CA、克列茨等品牌;提供示波器、網絡分析儀、功率分析儀、頻譜分析儀、光譜分析儀、熱像儀、信號發生器、信號源、交流電源、直流電源、源表、示波記錄儀、數字功率計、無紙記錄儀、數據采集系統、測試線纜、連接器、天線、傳感器、LCR測試儀、電子負載、邏輯分析儀、數據采集器、安規測試儀、信號分析儀、示波器探頭、電流探頭、電壓探頭、阻抗分析儀、皮安表、納伏表、靜電計、參數分析儀、耐壓測試儀、開關電源、混頻器、變頻器、環形器、電子管、水負載、測試電纜、校準件、EMC電磁兼容測試等產品銷售、系統集成、軟件開發等服務.客服電話：18518917293