■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR、漏電流，自放電等全參數(shù)測(cè)試

       ■  電流范圍：0-1A/10A，電壓范圍：0-6V

       ■  3U機(jī)框可容納30通道，超高空間利用率

       ■  采樣&通訊間隔可設(shè)，最小可低于10ms，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確

       ■  每通道對(duì)應(yīng)狀態(tài)指示燈，分選更方便

       ■  強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與分析功能

       ■  百兆以太網(wǎng)通訊

容量測(cè)量

       N8100可測(cè)量超級(jí)電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。 測(cè)試方法為：對(duì)被測(cè)超級(jí)電容以恒定電流進(jìn)行充（放）電， 在充（放）電過(guò)程中記錄時(shí)間和電壓參數(shù)，通過(guò)計(jì)算充（放） 電過(guò)程中電壓對(duì)時(shí)間的斜率計(jì)算容量。用戶可根據(jù)IEC等各 種測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)自行選擇電壓、時(shí)間參數(shù)進(jìn)行計(jì)算。

      N8100可通過(guò)重復(fù)充放電循環(huán)測(cè)試，測(cè)量超級(jí)電容在充放電過(guò)程中表征壽命特征的各項(xiàng)物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過(guò)分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級(jí)電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計(jì)壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽命測(cè)試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲(chǔ)等諸多環(huán)節(jié)的改善。 

      考慮到不同規(guī)模的測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景，NGI提供兩種測(cè)試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測(cè)試夾（治）具均為四線制接法。 

(4) 采用全屏蔽技術(shù)，對(duì)惡劣測(cè)試環(huán)境具有廣泛適應(yīng)性，有效提高了負(fù)載抗干擾能力。