400-665-6604
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PB6400功率芯片測試SiC KGD測試分選系統(tǒng)-聯(lián)訊儀器
產(chǎn)品類別：聯(lián)訊儀器
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品品牌：
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產(chǎn)品品牌：
聯(lián)系方式：
010-68456100 18518917293
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價(jià)格咨詢- 詳細(xì)描述
- 技術(shù)資料
PB6400 KGD測試分選系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于功率芯片SiC靜態(tài)&動態(tài)參數(shù)測試，支持Frame Ring、Tape&Reel以及定制Tray多種芯片包裝方式。
系統(tǒng)測試溫度范圍大，支持常溫到高溫185℃，針對高溫測試，系統(tǒng)配置高溫控制功能，高溫測試效率高。支持1測試站到4測試
站靈活可選，不同測試站可支持不同溫度與測試項(xiàng)目，客戶可根據(jù)測試需求定制化配置測試站，應(yīng)用靈活。
PB6400 KGD測試分選系統(tǒng)以專業(yè)化的設(shè)計(jì)、人性化的操作界面和強(qiáng)大的專業(yè)測試能力為功率半導(dǎo)體行業(yè)的生產(chǎn)、研發(fā)、制造提供了
一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化、高效率、高精度的裸DIE級測試解決方案。
