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PB6600是一款廣泛應用于半導體行業的高端KGD測試分選系統,專注于裸Die級SiC功率芯片動靜態參數測試。采用模塊
化設計,支持Frame Ring、Tape&Reel以及Tray 等多種芯片來料方式。支持Hard Docking連接方式及多站常高溫測試,具
備高壓防打火功能。專業的測試針卡設計,通流能力大,針痕可控,測試穩定性高。具備下料分Bin功能,支持分Bin方式定
制化選擇。
聯訊儀器PB6600 KGD測試分選系統以專業化的設計、人性化的操作界面和強大的專業測試能力為功率半導體行業的生產、研
發、制造提供了一個模塊化、高效率、高精度的裸DIE級測試解決方案。
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